LLM-aided Test Generation for Custom Neural Network Hardware Accelerators

DSpace Repositorium (Manakin basiert)

LLM-aided Test Generation for Custom Neural Network Hardware Accelerators

Autor(en): Peccia, Federico Nicolás; Hald, Tobias; Bringmann, Oliver
Tübinger Autor(en):
Peccia, Federico Nicolás
Hald, Tobias
Bringmann, Oliver
Erschienen in: 2025 IEEE European Test Symposium (ETS) (2025-05-30), Bd.
Verlagsangabe: IEEE
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/11049634
ISSN: 1558-1780
ISBN: 979-8-3315-9450-3
DDC-Klassifikation: 004 - Informatik
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
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