Charge granularity in single electron transistors with polysilicon gates

Autor(en):

Kotekar-Patil, Dharmraj; Jauerneck, Stefan; Ruoff, Matthias; Wharam, David A.; Kern, Dieter P.; Jehl, X.; Wacquez, R.; Sanquer, M.

Tübinger Autor(en):

Erscheinungsjahr:

2012

Verlagsangabe:

New York, NY : IEEE

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISBN:

978-1-4673-0191-6
978-1-4673-0190-9

DDC-Klassifikation:

530 - Physik

Dokumentart:

Teil eines Buches

Erschienen in:

Proceedings of the 13th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS), 2012

Seitenbereich:

(89-92)

Das Dokument erscheint in: