Direct imaging of dopant distributions across the Si-metallization interfaces in solar cells: Correlative nano-analytics by electron microscopy and NanoSIMS

Autor(en):

Kumar, Praveen; Pfeffer, Michael; Willsch, Benjamin; Eibl, Oliver; Yedra, Lluis; Eswara, Santhana; Audinot, Jean-Nicolas; Wirtz, Tom

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Solar Energy Materials and Solar Cells (2017), Bd. 160, S. 398-409

Verlagsangabe:

Elsevier Science Bv

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1879-3398

DDC-Klassifikation:

540 - Chemie
600 - Technik
530 - Physik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: