Reliability Analysis of Operating Systems and Software Stack for Embedded Systems

Autor(en):

Santini, Thiago; Carro, Luigi; Wagner, Flavio Rech; Rech, Paolo

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

IEEE Transactions on Nuclear Science (2016), Bd. 63, H. 4, S. 2225-2232

Verlagsangabe:

IEEE - Inst Electrical Electronics Engineers Inc

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1558-1578

DDC-Klassifikation:

600 - Technik
530 - Physik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel
Konferenzveröffentlichung

Das Dokument erscheint in: